產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER
當前位置：首頁
產(chǎn)品中心半導(dǎo)體材料測試霍爾電阻遷移率
產(chǎn)品分類
相關(guān)文章
LEIModel1605，是非接觸遷移率測試系統(tǒng)，可對各種半導(dǎo)體材料和器件結(jié)構(gòu)進行測試。無需制樣，消除了樣品制備引起的遷移率變化。
更新時間：2025-06-24
產(chǎn)品型號：LEIModel1605
瀏覽量：657
LEI88 是針對科研類客戶開發(fā)的產(chǎn)品，具備非接觸快速測試方塊電阻和電導(dǎo)率功能。
更新時間：2025-06-24產(chǎn)品型號：LEI88瀏覽量：647
非接觸Hal和方塊電陽測試系統(tǒng)，可對GaAs,InP,InAs,GaN,AIN,Si,SiC等各種半導(dǎo)體材料設(shè)計的HEMTs,pHEMTs,HBTs,FETs器件結(jié)構(gòu)進行測試。
更新時間：2025-06-24產(chǎn)品型號：瀏覽量：788
SRP 測試系統(tǒng)，采用擴展電阻率技術(shù)(SRP)，對載流子濃度和電阻率隨深度的變化做快速測試。
更新時間：2025-06-24產(chǎn)品型號：瀏覽量：1352公司郵箱： qgao@buybm.com
服務(wù)熱線： 021-33897997
公司地址： 上海市浦東新區(qū)周康路26號E棟408
Copyright © 2025 上海波銘科學(xué)儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號：滬ICP備19020138號-2
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
關(guān)于我們
公司簡介 企業(yè)文化 榮譽資質(zhì) 聯(lián)系我們快速通道
產(chǎn)品中心 新聞中心 技術(shù)文章 在線留言推薦產(chǎn)品
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng) RU120便攜式拉曼光譜儀
