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產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

光譜系統(tǒng)

顯微缺陷膜厚半導體晶圓缺陷檢測儀高光譜測試系統(tǒng) 瞬態(tài)吸收系統(tǒng) 太陽能電池量子效率太陽光模擬器IV系統(tǒng) 顯微光電流成像系統(tǒng) 探測器光響應度系統(tǒng) 光譜變溫附件探針臺拉曼SERS增強試劑顯微熒光系統(tǒng) 組合熒光系統(tǒng) 鏡頭透過率測試系統(tǒng) 漫反射率測試系統(tǒng) 反射、吸收率系統(tǒng) 成像亮度計標準燈參考輻射定標電致發(fā)光系統(tǒng) 常規(guī)發(fā)射光譜系統(tǒng) 共聚焦拉曼光譜儀

分光輻射照度測量系統(tǒng)

該檢測器是一種高性能的分光光度計，在光源測量、反射/透射測量、過程測量等方面取得了多項成果。覆蓋從紫外線到可見光和可見光到紅外線的寬波長范圍

更新時間：2025-05-07

產品型號：

瀏覽量：418
分光干涉式晶圓膜厚儀 SF-3

●非接觸式、非破壞性光學式膜厚檢測 ●采用分光干涉法實現(xiàn)高度檢測再現(xiàn)性 ●可進行高速的即時研磨檢測 ●可穿越保護膜、觀景窗等中間層的檢測 ●可對應長工作距離、且容易安裝于產線或者設備中 ●體積小、省空間、設備安裝簡易 ●可對應線上檢測的外部信號觸發(fā)需求 ●采用最適shi合膜厚檢測的獨自解析演算法。(已取得專zhuan利) ●可自動進行膜厚分布制圖(選配項目)

更新時間：2025-05-07

產品型號：

瀏覽量：474
光波場三維顯微鏡 MINUK

MINUK是一種可以評估納米量級的透明異物和缺陷的設備，可以單次獲取高度方向的信息，并且可以無損、非接觸、非侵入性地進行測量。此外，還可以高速掃描任何表面并確定測量位置，而無需對焦。

更新時間：2025-05-07

產品型號：

瀏覽量：331
ZETA電位 · 粒徑測試系統(tǒng)·ELSZneoSE

本產品為粒徑及zeta電位測量專用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能。根據(jù)用途，可以根據(jù)需要定制任意數(shù)量的必要功能。

更新時間：2025-05-07

產品型號：

瀏覽量：346
ZETA電位 · 粒徑測試系統(tǒng)·ELSEneoSE

● 可根據(jù)用途增加功能(分子量測定、粒子濃度測定、微流變測定、凝膠網眼結構分析、粒徑多角度測定) ● 可以用標準流動池連續(xù)測量粒徑和zeta電位 ● 可以測量從稀薄到濃厚溶液(~40% )的廣泛濃度范圍的粒徑zeta電位 ● 可以在高鹽濃度下測定平板狀樣品的zeta電位 ● 可在0~90℃的廣闊溫度范圍內進行測量 ● 通過溫度梯度功能，可對蛋白質等的變性及相變溫度進行解析

更新時間：2025-05-07

產品型號：

瀏覽量：328
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng)·ELSZneo

ELSZ series的最zu高級機型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進行分子量測定的裝置。作為新的功能，為了提高粒度分布的分離能力，采用了多角度測定。另外，也可實現(xiàn)測量粒子濃度測定、微流變學測定、凝膠的網狀結構分析。全新的zeta電位平板固體樣品池，通過新開發(fā)的對應高鹽濃度的涂層，可以在生理鹽水等高鹽濃度環(huán)境下進行測量。

更新時間：2025-05-07

產品型號：

瀏覽量：362

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