產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER
當前位置：首頁
產(chǎn)品中心光譜系統(tǒng)顯微缺陷膜厚分光輻射照度測量系統(tǒng)
產(chǎn)品簡介
該檢測器 是一種高性能的分光光度計 ，在光源測量、反射/透射測量、過程測量等 方面取得 了 多項成果 。 覆蓋從紫外線到可見光和可見光到紅外線的寬波長范圍
產(chǎn)品分類
相關文章
該檢測器
是一種高性能的分光光度計，在光源測量、反射/透射測量、過程測量等方面取得了多項成果。
覆蓋從紫外線到可見光和可見光到紅外線的寬波長范圍
帶軟件的樣品照明電源，測量儀器批量控制
LIV測量，脈沖點測量，樣品溫控測量
設備校準的標準燈由我們自己的部門提供，并由 JCSS 校準公司注冊。
照度、輻照度
光譜數(shù)據(jù)（光譜輻照度）
其他測量項目
三刺激值 XYZ、色度坐標 xy、uv、
u’v’相關色溫、Duv、主波長、刺激純度 顯
色指數(shù) Ra、R1 至 R15
峰值波長、半寬
光子通量密度 PFD、光合光子磁通密度PPFD
半導體晶圓的面內(nèi)分布測量
玻璃基板的面內(nèi)分布測量
實時測量
流向品質管理
真空室適用
實時測量
寬度方向品質管理
超硬涂層的膜厚解析
公司郵箱： qgao@buybm.com
服務熱線： 021-33897997
公司地址： 上海市浦東新區(qū)周康路26號E棟408
Copyright © 2025 上海波銘科學儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號：滬ICP備19020138號-2
技術支持：化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
關于我們
公司簡介 企業(yè)文化 榮譽資質 聯(lián)系我們快速通道
產(chǎn)品中心 新聞中心 技術文章 在線留言推薦產(chǎn)品
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 半導體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng) RU120便攜式拉曼光譜儀
上一個：
返回列表