準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)-光致發(fā)光測(cè)試設(shè)備

產(chǎn)品簡(jiǎn)介
準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)-光致發(fā)光可以將QSS準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)少子壽命測(cè)試和PL光致發(fā)光技術(shù)相結(jié)合，快速獲得樣品的少子壽命分布圖譜信息。

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2025-06-24

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

訪問量：711

產(chǎn)品咨詢 18117546256

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

半導(dǎo)體材料測(cè)試

體微缺陷測(cè)試霍爾電阻遷移率光伏光致發(fā)光深能級(jí)瞬態(tài)譜測(cè)試橢偏拉曼AFM 半導(dǎo)體多功能測(cè)試 CV測(cè)試系統(tǒng)集成測(cè)試儀器租賃

查看全部產(chǎn)品

相關(guān)文章

光纖光譜儀六個(gè)參數(shù)概述

常規(guī)發(fā)射光譜可以用來探測(cè)物質(zhì)在高溫高壓狀態(tài)下的性質(zhì)

光學(xué)平臺(tái)的隔振原理介紹

太陽光模擬器的光譜調(diào)節(jié)與能量輸出管理

詳細(xì)介紹在線留言

Capability:

QSS lifetime calibration -準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)少子壽命測(cè)試
standard PL configuration-光致發(fā)光掃描
Combined QSS and PL-準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)-光致發(fā)光結(jié)合
J_omapping-發(fā)射級(jí)飽和電壓掃描
lmplied V_oc mapping-贗電壓掃描

準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)-光致發(fā)光測(cè)試設(shè)備

上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺(tái)、激光器、Edmund 光學(xué)元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測(cè)器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學(xué)測(cè)試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級(jí)相機(jī)、Semilab 半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備及高低溫探針臺(tái)系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展，上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場(chǎng)上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度，客戶遍布全國(guó)。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場(chǎng)地位和影響力。

上一個(gè)：WT-2000PL光致發(fā)光檢測(cè)設(shè)備